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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography (HARDCOVER)

High Resolution X-Ray Diffraction and Topography (HARDCOVER)

$6,613

ISBN：9780850667585

作者：Bowen, D. Keith/ Tanner, Brian K.

出版社：CRC Pr I Llc

出版日期：1998/02/01

尺寸：102x70x7mm

頁數

300

學習目標語

英語

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