語言教學者

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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (HARDCOVER)

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (HARDCOVER)

$6,230

ISBN：9781848219366

作者：Dahoo, Pierre Richard/ Pougnet, Philippe/ El Hami, Abdelkhalak

出版社：Iste/Hermes Science Pub

出版日期：2016/08/22

頁數

200

學習目標語

英語

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運送方式：

下單後立即採購，需2個月。

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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (HARDCOVER)

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